IEEE 國際先進互聯研討會（WAI）圓滿結束
德普福參與先進互聯技術交流，持續投入毫米波與高頻測試解決方案。
新聞資訊
掌握德普福原廠動態與射頻測試應用資訊。
解密晶圓測試探針的關鍵作用與選擇要點
晶圓測試探針是連接測試設備與晶片的重要橋梁，選型時需綜合評估頻率、間距、接觸與耐用度。
探針校準片如何使用？
正確的校準流程可降低量測誤差並提升毫米波測試的重複性與可靠度。
掌握德普福原廠動態與射頻測試應用資訊。
德普福參與先進互聯技術交流，持續投入毫米波與高頻測試解決方案。
晶圓測試探針是連接測試設備與晶片的重要橋梁，選型時需綜合評估頻率、間距、接觸與耐用度。
正確的校準流程可降低量測誤差並提升毫米波測試的重複性與可靠度。
由台灣技術服務團隊協助選型、評估與專案整合。