IC 測試 Socket定制化開發

應用於BGA、PGA、QFN、GCSP、CLCC、QFP、TSOP等多種封裝形式IC產品。

適用於FT 、品質抽檢、老化、燒錄，失效分析等測試。

深度配合客戶定制化開發整體Socket測試治具；包括彈性壓頭，測試座，高頻PCB等；

高頻：同軸設計，滿足45GHz測試需求

高密度：最小測試間距0.4mm pitch。

高性能：IL(dB) ≤0.17@45GHz；RL(dB) ≥15.9 @45GHz

操作方便，顯著降低IC測試成本。