德普福探針校準片用於晶片與毫米波探針量測的校準作業，可搭配向量網路分析儀使用。原廠列有 SOLT 與 TRL 校準方法；選型時應一併提供探針排列、間距與量測頻率。
產品規格與特性
德普福的探針校准片支持各種晶片測試級探針校准。使用矢量網絡分析儀測試時，探針配合校准片校准後，能夠精准測試片上高頻性能。德普福校准片提供SOLT，TRL等校准方法。還可以根據客戶實際應用需求，支持定制!
原廠型錄與尺寸圖
- DPF ISS 系列校准片使用说明.rev.B.pdf
- Probe ISS_101D100-250_datasheet_RevA.pdf
- Probe ISS_101D250-500_datasheet_RevB.pdf
- Probe ISS_10-01D100-150_datasheet_RevA.pdf
- Probe ISS_10-01D150-250_datasheet_RevA.pdf
- Probe ISS_10-01D75-250_datasheet_RevA.pdf
- Probe ISS_10101D150_datasheet_RevA.pdf
- Probe ISS_1001D100_datasheet_RevA.pdf
台灣技術服務與詢價
請提供型號、量測頻率、介面及安裝需求，由台灣德普福協助確認規格、尺寸圖與供貨資訊。
產品資料依原廠公開頁面整理；供貨配置及適用條件請以確認後的原廠規格書為準。查看原廠產品資料